Zeiss蔡司双束电子显微镜 Nvision 40

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简介：双束电子显微镜 Nvision 40 CrossBeam 工作模式：蚀刻、抛光过程中的高分辨率实时成像采用GEMINI镜筒实现高分辨率成像超高精度的聚集离子束(FIB) 自动化的透射电子显微镜(TEM)样品制备软件包采用镜筒内置式EsB探测器，获得更好的组分像技术参数：分辨率...

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产品介绍

双束电子显微镜 Nvision 40

CrossBeam 工作模式：蚀刻、抛光过程中的高分辨率实时成像

采用GEMINI镜筒实现高分辨率成像

超高精度的聚集离子束(FIB)

自动化的透射电子显微镜(TEM)样品制备软件包

采用镜筒内置式EsB探测器，获得更好的组分像

技术参数：

分辨率：电子光学 FIB

1.1nm @20kv NEON： 7nm@30kv

2.5nm @1kv NVision40： 4nm@ 30kv

加速电压： 0.1-30kv

NEON： 2-30kv

NVision40: 5-30 kv

1-5 kv(opt.)

束流： NEON： 12-900kx NEON： 1pA-50nA

NVision40：4pA-20nA NVision40: 0.1pA-45nA

放大倍数： NEON：4pA-10nA NEON： 600x-500kx

NVision40：30x-900kx NVision40： 475x-500kx

发射源：热场发射 Ga液态金属离子源(Ga LMIS)

标配探测器： In-lens二次电子探测器与样品室内ET探测器

图像处理模式：7种积分平均模式

操作界面：基体Windows XP 的SmartSEM

Zeiss蔡司 双束电子显微镜 Nvision 40